"AFM" 검색결과 1-20 / 616건

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  AFM 발표자료

  AFM 새별의 파워포인트 2017027023 정민교 2017027003 전세영 2017027039 이상민목차 1 AFM 이란 ? 2 AFM 원리 3 Sample 4 ... Lithography a table of contents ⓒSaebyeol Yu. Saebyeol’s PowerPointPart 1 AFM 이란 ? ⓒSaebyeol Yu. Saebyeol’s ... PowerPointAFM 이란 ? Part 1 AFM 구조 AFM : Atomic Force Microscope 의 약자로 탐침 (probe) 를 통해 스캔한다는 의미의 SPM

  리포트 | 28페이지 | 1,500원 | 등록일 2022.11.17

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  TEM, SEM, AFM

  TEM, SEM, AFM과목나노소재기술론담당교수학과금속공학과학번이름제출일2020년 4월 5일1.TEM(Transmission Electron Microscope)Fig.1.1 ... , 반도체 IC, 집적회로, 전자부품 등의 형태관찰, 혹은 품질관리에 2차전자상, 원소분석에 반사전자상이나 X선 화상으로 응용이 가능하다.3. AFM(Atomic Force ... Microscope)Fig.3.1. 원자 힘 현미경(Atomic Force Microscope)3.1. AFM 원리원자 힘 현미경은 역학적 탐침을 기초로 한다. 시료를 탐침하는 부분

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.09.07 | 수정일 2023.12.23

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  반도체 공정에서의 AFM 활용

  1. Introduction반도체가 고집적화, 미세화되면서, 5 나노 시대까지 도래하게 되었다. 컴퓨터부터 스마트폰, 인공지능까지 반도체가 적용되는 범위는 날로 확장되고 있다. 이러한 반도체의 성능에 가장 큰 영향을 주는 것은 반도체의 표면이다. 반도체의 표면이 결함이..

  리포트 | 4페이지 | 2,500원 | 등록일 2022.01.28

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  AFM 분석 결과 레포트

  ? ID & NamePurpose용액을 spin coating 하는 방법을 습득하고, AFM을 이용하여 박막의 roughness를 측정한다.ExperimentHIL(정공 주입층)인 ... ℃의 온도로 용매를 건조시킨다. 또한, AFM 장비를 이용하여 ZnO 박막의 roughness를 여러 가지 다양한 이미지로 확인하여 본다.Result&Discussion그림 1

  리포트 | 1페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.02.15

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  Surface characterization by AFM

  1. 실험제목: Surface characterization by AFM2. 실험일자: 2015년 5월 28일 목요일3. 실험목적: 원자현미경의 종류 중 하나인 AFM의 특징 ... Microscope): AFM 팁이나 광섬유 끝을 변형 시킨 프로브를 사용하여 주사(Scanning)하는 현미경이다. 이때 프로브는 연구하려는 물체의 표면과 상호작용을 함으로써, 표면 ... - SPM은 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경으로 STM과 AFM을 통칭하는 용어이다.- 원자는 너무 작아서(0.1-0.5nm) 아무리 좋은 현미경

  리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.01.18 | 수정일 2023.01.12

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  원자현미경 STM과 AFM의 이론 및 AFM 측정 실험보고서

  실험제목AFM 실습 보고서(Atomic Force Microscope)과목명나노 바이오 시스템 공학실험 일자2015년 11월 19일조이름학번담당 교수AFM 실습 보고서Ⅰ. 서론 ... 를 관할 수 없는데 반면 원자현미경의 수직방향의 분해능은 수평 방향보다 더욱 좋아서 원자지름의 수십 분의 일(0.01nm)까지도 측정할 수 있다.Ⅱ. AFM 이론SPM은 나노크기 ... , AFM, FFM, SSM, SNOAM 등으로 구분된다.그 중 가장 보편적인 AFM 원자현미경을 실습하였고 그 근원을 알기 위하여 SPM의 초기모델인 STM부터 조사를 시작

  리포트 | 12페이지 | 4,900원 | 등록일 2020.12.16

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  Instrumental Analysis AFM 결과보고서

  i. AFM (Atomic force microscope)AFM 은 sample 과 cantilever 사이에 작용하는 van der waals force 를 이용하여 시료 표면 ... 는다. 또한 cantilever 와 sample 사이의 미세한 힘을 이용하기 때문에 측정 가능한 sample 이 도체에서 부도체로 확장되었다.AFM 은 크게 contact mode

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2022.08.31

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  Instrumental Analysis AFM 예비보고서

  1. 실험 목적 (objective)- Atomic Force Microscope(AFM)의 원리를 이해한다.- AFM tip과 sample 사이 거리에 따른 Van der ... Waals force 변화와 다양한 스캔모드에 대해 배운다.- AFM noncontact mode를 사용하여 membrane sample의 roughness, surface Z

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.08.31

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  전자현미경(TEM, SEM, AFM)에 대한 PPT

  About SEM, TEM, AFM 소속 이름 학번INDEX 1 2 TEM - 개념 구조 - 원리 3 AFM - 개념 구조 - 원리 SEM - 개념 구조 - 원리 4 ... 한 전자빔은 다시 여러 개의 자기렌즈를 거쳐 최종적으로 형광판이나 CCD 검출기로 검출되어 모니터 화면에 출력된다 . Ref. 9) Ref. 10)AFM원자간력현미경은 특히 수용액 ... 할 수 있는 상을 얻는 현미경이다 . CONCEPT AFM - 개념 Ref. 11) 분자내에 작용하는 미소한 힘을 측정하는 목적에도 사용된다 .AFM - 구조 Ref. 12) A

  리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.05.25 | 수정일 2023.09.15

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  Atomic Force Microscope(AFM) 결과보고서

  AFM (Atomic Force Microscope)은 Scanning probe microscopy의 일종으로 AFM의 Probe는 시료표면을 따라가며 Probe와 표면사이 ... 에 작용하는 반데르발스힘의 변화를 측정하여 표면정보를 나타낸다. AFM의 탐침자는 Cantilever라고 불리는데, 이 Cantilever는 뾰족한 Tip을 끝에 가지고 있어 팁

  리포트 | 4페이지 | 3,200원 | 등록일 2021.03.26 | 수정일 2022.10.20

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  SPM 현미경의 종류/원리/특징(STM,AFM

  일체를 통칭하며, 그 물리량에 따라 AFM, FFM, SMM, SNOAM, MFM등으로 구분된다.II. SPM의 기본 원리(STM, AFM)ⅰ. STM(Scanning ... 재구성하여 표면의 구성을 관찰한다.(전류 구동방식, 높이 구동방식)ⅱ. AFM(Atomic Force Microscope) - SPM의 단점 보완(시편이 도체가 아니어도 됨)접촉 ... 모드 AFM(원자사이의 척력 사용)?길이가 100μm, 폭 10μm, 두께 1μm 정도의 아주 미세한 캔틸레버를 시편에 가까이 한다.?캔틸레버는 시편 표면의 원자와의 거리에 따라

  리포트 | 2페이지 | 1,500원 | 등록일 2020.12.16

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  [실험설계] 스핀코팅의 원리 및 AFM 분석

  [실험설계]스핀코팅의 원리 및 AFM 분석[목차]1. 스핀코팅 (Spin coating)2. Surface profiler3. Atomic Force Microscope (AFM ... )1) 접촉식 (contact mode) AFM2) 비접촉식 (non-contact mode) AFM4. 실험 방법(1) 시료 제작(2) 측정 방법(3) 두께 측정(4) 표면 ... 한다. 이 때 사용하는 용매는 boiling point 가 낮아 증발이 잘 되는 물질은 사용을 피한다.3. Atomic Force Microscope (AFM)팁과 샘플 사이

  리포트 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2024.10.27

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  [고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석

  AFM을 이용한 ITO glass 구조분석Ⅰ. Abstract이 글은 최근에 LCD, PDP 등의 얇고 평평한 디스플레이에 들어있는 ITO glass를 원자간력현미경(Atomic ... Force Microscope, AFM)을 통해 시료의 표면 형태를 분자단위에서 관찰해 보았다. 관찰해본다. 이러한 실험을 바탕으로 투명전극재료인 ITO glass에 대한 이론 ... , 원자간력현미경에 대한 이론, AFM을 이용한 ITO glass 실험 과정 및 분석 순으로 기술되어 있다.Ⅱ. Introduction1. ITO(Indium-Tin Oxide)한국

  리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.08.22

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  [KAIST] Measuring Properties of Elastomers using AFM Force Curves

  In this experiment, atomic force microscopy (AFM) is used for the determination of force constant ... and curing agent ratio. Common AFMs are consisted of mainly three parts: cantilever with a sharp tip

  리포트 | 8페이지 | 2,500원 | 등록일 2024.11.15 | 수정일 2024.11.18

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  SEM FTIR AFM 을 이용한 금나노 입자 분석 레포트

  FTIR, SEM, AFM을 이용한 금나노입자 (AuNP) 관찰 및 분석Observation and Analysis of AuNPs by FTIR, SEM ... , AFMMaterials100nm 직경의 AuNP 수용액(저번 실험에서 제조한 것 사용)FTIR 분석장비SEM 현미경AFM 현미경Results저번 실험에서 만든 100nm 크기의 AuNP를 SEM ... 결합으로 인한 것으로 극점이 발견되었다고 볼 수 있다. (1)마지막으로, AuNP 수용액을 AFM으로 관찰한 결과는 다음의 사진과 같다.Discussions이번 실험은 합성된 금나노

  리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.04.13 | 수정일 2022.05.20

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  AFM(원리, 접촉모드, 비접촉모드, 탬핑모드)

  목 차 나노 AFM 이란 ?식각공정 ( Etching) 이란 ? - 포토공정에서 형성된 (PR) 부분을 남겨두고 , 산화막의 나머지 부분을 제거하는 과정※ Etching 종류 ... 건식 식각 (Dry etching) 식각공정 (Etching) 습식 식각 (Wet etching)AFM Atomic Force Microscope ( 원자현미경 ) 나노 미터급 원자 ... 단위 측정 STM 의 가장 큰 결점인 전기적으로 부도체인 시료는 볼 수 없다는 것을 해결AFM 원리 사료 표면의 원자와 탐침 끝의 원자간 상호작용 발생 ( 인력 / 척력발생 ) 이

  리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2020.07.09 | 수정일 2020.07.11

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  [A+] 단국대 고분자공학실험및설계2 <코팅 방법 -Atomic Force Microscope (AFM)> 레포트

  1. 실험 목적- AFM으로 물질의 표면거칠기를 측정하고, 측정원리와 RMS 값이 나오는 계산에 대해서 이해할 수 있다.-코팅 방법 변화에 따른 Roughness 차이를 이해 ... 분석가능하다는 장점과 진공, 액상조건에서도 분석할 수 있는 장점이 있다. 이러한 장점 때문에 현재 SPM은 나노표면 분석용으로 보편적인 장비가 되고 있다. AFM, STM을 통칭 ... 하는 SPM은 적용에 따라서 추가적인 장비를 부착하여 새로운 기능을 추가할 수 있는 유연성이 있다.AFM은 수십 마이크로미터의 캔틸레버 끝에 미세한 팁을 달아 표면에 가까이 하

  리포트 | 8페이지 | 6,000원 | 등록일 2024.09.16 | 수정일 2024.10.17

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  5 AFM

  다. SPM의 종류로 STM(Scanning Tunneling Microscope), AFM(Atomic Force Microscope) 등이 있다. STM의 가장 큰 결점은 전기 ... 적 으로 부도체인 시료를 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결한 것이 AFM이다. Figure 1과 Figure 2는 AFM의 구조를 나타낸 그림이다. AFM에서는 마이크로머시닝 으로 제조 ... 표면에 적용되는 힘이나 궁극적인 AFM의 lateral solution을 결정하기 때문에 AFM에 있어서 가장 중요한 요소 중의 하나이다. 일반적인 cantilever는 Si

  리포트 | 10페이지 | 3,000원 | 등록일 2018.04.03

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  AFM-발표 자료(PT)

  이었던 Binning, Roher , Gerber 와 Weibel 에 의해 1982 년에 개발 정의 : STM (Scanning Tunneling Microscope) 과 AFM ... 된다 . 5) STM 단점 AFM2. AFM 이란 ?1) AFM (Atomic Force Microscope) STM(Scanning Tunneling Microcopy) 의 문제점 ... 해결 원자와 원자와의 반발력과 인력 전기적인 특성과 무관하므로 도체 , 반도체 및 부도체등 모든 시료의 분석에 범용적으로 적용2) AFM 원리 캔틸레버 (Cantilever

  리포트 | 23페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.11.06

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  afm

  AFM(Atomic Force Microscope)Ⅰ. Introduction주사탐침현미경(SPM)은 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭 ... 하는 말로서, 일반적으로 Scanning Tunneling Microscope(STM)와 Atomic Force Microscope(AFM)를 통칭하여 부른다. 전도도가 높은 표면 ... 만을 찍을 수 있는 STM과는 달리, 원자와 원자간의 인력이나 반발력을 이용하여 표면영상을 찍을 수 있는 AFM은 IBM이 주도한 공동연구에서 Binning, Quate

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.06.28

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