FT-IR 적외선분광법을 이용한 물리화학실험

소개

FT-IR 적외선 분광법을 이용하여 한 실험입니다

목차

1. 실험목적
2. FT - IR 기기 설명 및 이론
3.실험재료 및 시약
4.실험시 주의사항
5. 실험방법
6 고찰

본문내용

1. 실험목적
광학적 분석기법을 사용하는 고체재료 특성분석의 기본 원리를 이해하고, FT-IR
분광법(Fourier Transform Infrared Spectroscopy)을 사용하여 고체재료의 특성들
즉, 물질의 구조, 전하농도, 박막층 두께 등을 조사하는 기술을 습득한다.
2. FT - IR 기기 설명 및 이론
2 -1) FTIR 기기 설명
적외선 분광기는 광원, 시료부, 광도계, 단색화 장치 및 검출기 로 나눌수 있다
다음은 적외선 분광기의 개요이다
1 ) 광원
적외선은 Nernst filament 또는 Globar 와 같은 열광원이 전기적으로
100∼1800℃까지 가열됨에 의해 생겨난다. Nernst filament 는 바인더와
Zr, Th, Ce 의 산화 형태등으로 이루어 지며, Globar 는 Silicon carbide
의 작은 막대이다.
Globar 의 최대파장 영역은 5500-5000 (1.8-2.0 ㎛ )이며
Nernstfilament 는 약 7100 ㎝-1( 1.4 ㎛ )이다.
광원에서 나온 빛은 거울, M1, M2 에 의해 두 빛살로 나뉘어 진다.
이 두빛살 즉 기준 빛살과 시료 빛살은 거울 M3, M4 에 의해 시료 영역으로
들어간다. 광원의 분류로는 Continuous Source 와 Line Source 로 분리된다.
2 ) 시료부
광원에서 나온 두 빛살은 각각 cell 을 통과 후 광학 장치부로 들어가게 되며,
빛살감쇠장치가 있어서 시료 자체가 불투명하여 투과율이 낮을 때 이 기준
빛살에 설치된 감쇠장치를 조절하여 사용할 수가 있다.
3 ) 광학장치
감쇠장치를 통과한 기준 빛살은 M6 과 M8 에 의해 반사되어 회전 단면 거울
인 M7 로 통과되며, 이 M7 은 광학계에서 벗어난 기준 빛살을 선택적으로
반사하고 나머지 빛살은 M9 로 통과시킨다( 8-13 cycle / sec ). 이 빛살은
M10 에 의해 슬릿 S1 에 촛점이 맞춰진다.
시료 빛살은 comb 를 통과하여 M5 에 의해 M7 로 반사되며 필요 없는 빛을
제거 시키고 M9 로 반사 시켜 M10 을 통과 슬릿 S1 에 도달하게 된다. 어떤
주어진 순간 시료 빛살 또는 기준빛살이 슬릿 S1 에 초점이 맟추어 진다.
이 각각의 빛살들이 같은 세기일 경우 기기는 광학적으로 기준점의 상태에
이르는 것이다. 시료 빛살에 있는 comb 는 빛살의 균형을 유지시켜 주며
시료가 없을 경우에는 100% 투과율을 갖는다.
4 ) 단색화 장치
슬릿 S1 에서 조합된 기준 빛살과 시료 빛살은 M11 로 가서 회절발 S1 으로
보내진다. 이빛살이 여러가지 진동수로 분산되며 다시 M11 로 되돌아와서
M12 를 거쳐 슬릿 S2 로 초점이 맞게 된다. 슬릿 S2 에 모여진 분산된 빛의

참고자료

· 물질보건안전자료 [polyvinyl Alcohol(PVA)]
· 생체재료용 고분자 기술 동향 2002. 11
· Naver 백과사전 [황산나트륨]
· http://100.naver.com/100.nhn?docid=173701
· 2007.09.20부경대학교 이상미 FT -IR 이론과 실제.ppt