[일반 물리학 실험] Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)

소개

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목차

1.실험제목
2.실험일시
3.실험목적
4.실험기구
5.이론
6.실험방법

본문내용

1807년 T.영이 도입한 탄성률의 하나
균일한 굵기의 막대를 양쪽 끝에서 잡아당기면 막대에 가해지는 변형력 T는 단위길이 당 연신(延伸:늘어남 또는 줄어듦) A에 탄성한계 내에서 비례하는데, 그 비E=T/A 을 영률 또는 연신탄성률(늘어나기 탄성률)이라 한다. 막대의 굵기나 길이와는 관계없이 재료에 따라 거의 정해진 값으로 나타난다.
탄성 영역에서 스트레스와 변형 사이에는 비례 관계가 성립한다. 즉, 스트레스가 크면 변형도 크게 일어난다. 이 때의 비례 계수를 영률이라 하고 Y로 쓴다.


길이 l, 폭 a, 두께 b인 금속막대의 중심에 무게 W = Mg인 추를 달아 그림 1과 같이 휘어지게 하였을 때 중심점이 내려간 거리 e는 휨 이론으로부터 이 된다. 따라서 이

금속막대의 Young률 가 된다. 따라서 금속막대의 폭 a, 두께 b, 막대의 두 받침판

사이의 간격 l,그리고 중심점의 내려간거리 e를 측정하여 금속막대의 영률 Y를 구할 수 있다.

참고자료

· 없음