전자현미경(TEM, SEM, AFM)에 대한 PPT입니다.
각 현미경의 정의와 구조, 원리에 대해 작성했습니다.
맑은고딕 폰트를 사용했고 전체적으로 심플하고 깔끔하게 제작하였습니다.
목차
1. SEM
1) 개념
2) 구조
3) 원리
2. TEM
1) 개념
2) 구조
3) 원리
3. AFM
1) 개념
2) 구조
3) 원리
4. 참고문헌
본문내용
SEM
- 개념
concept: 전자선(electron beam)을 이용하여 물질의 표면 정보를 관찰하는 측정 장비.
전자빔을 시료표면에 주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해 발생되는 이차전자 혹은 후방 산란 전자를 이용하여 시료의 표면을 관찰한다
주사전자현미경은 배율이 수만 배에 달하므로 육안으로 불가능한 미세 관찰이 가능하다
전자빔의 지름은 수십-수 nm 정도이기 때문에 넓은 영역을 관찰하려면 좌우 상하로 전자빔을 주사(scanning)해야한다
- 전자총
광원으로 사용되는 전자를 만들고 가속시키며, 전자선의 형태로 사용되는 안정된 전자원을 공급한다.
- 자기렌즈
전자기렌즈는 코일이 감아진 원통형의 전자석으로 전자가 자장에 의해 휘는 성질을 이용하여 전자를 한 곳으로 모으는역할을 한다.
- 검출기
전자빔이 입사된 각 점의 명암을 화면의 좌표계에 옮겨 각 점의 명암을 영상으로 나타낸다.
참고자료
· https://blog.naver.com/baruntec/220267822963
· 주사전자현미경(SEM) 원리|작성자 쎄크
· https://blog.naver.com/sec2157341/90184246782
· https://blog.naver.com/kwclab/220056179493
· [네이버 지식백과] 투과전자현미경 [Transmission electron microscope] (물리학백과)
· 고분해능 투과전자현미경(99.09)(TEM) Transmission Electron Microscope |작성자 KNU공동실험실습관
· https://terms.naver.com/entry.nhn?docId=4389510&cid=60217&categoryId=60217
· 투과전자현미경(TEM:Transmission Electron Microscope)|작성자 nari1758
· [네이버 지식백과] 투과전자현미경 [Transmission electron microscopy] (지질학백과)
· https://blog.naver.com/pgaeguri/221549337755
· https://blog.naver.com/00811022/221071721096
· https://blog.naver.com/00811022/221071721096
· https://blog.naver.com/bluenajjang/221417347127
· [네이버 지식백과] 원자 힘 현미경 [atomic force microscope] (화학백과)
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