전기전자공학 인덕턴스의 특성과 커패시터의 리액턴스 레포트

소개글

전기전자공학 인덕턴스의 특성과 커패시터의 리액턴스 결과보고서입니다.

목차

1. 실험 개요
1) 실험 목적
2) 실험 이론

2. 실험결과 및 분석

3. 고찰

본문내용

1. 실험 개요
1.1 실험 목적
(1) 오실로스코프로 위상변화를 측정해 주파수가 인덕턴스에 미치는 영향을 측정한다.
(2) 다음과 같은 캐패시터의 리액턴스 공식을 실험적으로 확인한다.
XC= 1/2∏fC

1.2 실험 이론
① 위상관계
저항과 인덕터로 구성된 회로에서 위상차는 저항과 인덕터의 리액턴스 크기에 좌우된다. 저항값이 리액턴스 값의 10배라면 위상각은 6˚일 것이다. 리액턴스 값이 저항값이 10배라면 위상각은 84˚이다. 만약 두 값이 동일하다면 위상각은 45˚가 될 것이다.

② 캐패시터의 리액턴스
캐패시터의 용량성 리액턴스 Xc는 교류회로에서 전류의 흐름을 방해하는 정도를 나타낸다. 용량성 리액턴스의 단위는 오옴이나 유도성 리액턴스 XL 또는 용량성 리액턴스 Xc는 저항계로 측정할 수 없다 더욱이 용량성 리액턴스는 교류회로에서 전류에 미치는 영향을 관찰함으로써 간접적으로만 측정할 수 있다.
용량성 리액턴스는 다음 식과 같이 주파수에 따라 변화한다.
XC= 1/2∏fC (Ω)
위 식에서 주파수가 커지면 리액턴스는 작아짐을 알 수 있다. 즉, 반비례 관계에 있다. f=0인 직류전류에서 Xc는 무한대이다. 이는 직류회로에서 캐패시터는 개방회로로 동작하므로 직류전류는 캐패시터를 통과할 수 없다는 것을 의미한다,

2. 실험 결과 및 분석
① 주파수가 인덕턴스에 미치는 영향

결과 분석 : 유도성 리액턴스 XL=VL/VR X R 로 계산한 값과 XL=2∏fL로 계산한 값의 오차가 거의 나지 않음을 확인할 수 있다.

참고 자료

없음