XRD 장비의 이해

소개

XRD장비의 이해에 대한 레포트입니다

목차

1. 실험목적

2. 배경이론
(1) XRD(X-Ray Diffraction)란 무엇인가
(2) X-Ray 회절의 원리
(3) Bragg’s law
(4) XRD 분석원리
(5) Intensity & Structure factor
3. 실험방법

4. 실험결과

5. 결과분석

6. 결 론

7. 참고문헌

본문내용

1. 실험목적
XRD장비를 이용하여 입사각(2θ)에 따른 Intensity의 그래프를 분석하여 높은 Intensity(보강간섭)이 나타나는 구간에 대해 면지수를 구하고 그것에 대해 crystal structure에 따른 보강/상쇄간섭의 조건을 만족하는지 비교한다.

2. 배경이론
(1) XRD(X-Ray Diffraction)란 무엇인가
XRD란 X-Ray Diffraction의 약자로서 X-ray를 어떠한 샘플에 투사하면 X선이 산란 및 회절을 하게 되는데 이러한 회절 패턴을 분석하는 것을 말한다. 이를 응용하면 물질의 미세 구조를 보다 정확하게 알 수 있다. XRD는 물질 내의 원자에 의해 X-ray가 산란되는 현상을 이용하여 물질 중에 원자가 어떻게 배열되어 있는가를 연구하는 실험 방법 중 하나로, 결정구조와 결정상태, 원자배열과 관계가 있는 정보를 알 수 있다.

(2) X-Ray 회절의 원리
그림과 같이 임의의 결정상태에서 원자가 간격 d를 갖고 있는 평행된 격자라고 가정할 때, A, B, C ~ 상태로 배열되어 있을 때 파장을 가지고 있는 X선은 입사각으로 조사하면, X선은 원자에 의해 모든 방향으로 산란된다.

참고자료

· optics.yonsei.ac.kr
· http://en.wikipedia.org - 위키피디아
· Principles of Electronic Materials and Devices 3rd Edition – S.O.Kasap