기초전기전자실험 보고서(오실로스코프, 신호발생기)

목차

1. 실험 목적
2. 실험 원리
3. 실험 방법
4. 실험 결과
5. 실험 고찰

본문내용

□ 실험 목적
1. 오실로스코프(oscilloscope)의 동작 원리에 대하여 이해한다.
2. 오실로스코프의 사용법을 익힌다.
3. 함수 발생기(Function Generator)의 사용법을 익힌다.
4. 파형 관측, 전압, 주파수 및 위상 측정 방법을 익힌다.
5. 리사쥬 도형에 의한 위상차를 측정한다.
6. 가청주파발생기(Audio-Frequency Generator, AF Generator)와 함수 발생기의 사용법을 익힌다.
7. 가청주파발생기와 함수 발생기를 사용한 여러 가지 신호 파형을 발생시킨다.
8. 가청주파발생기와 함수 발생기를 사용하여 발생된 파형의 측정법을 익힌다.

□ 실험 원리
○ 오실로스코프
오실로스코프는 시간적으로 변화하는 전기적인 신호를 음극선관(Cathode Ray Tube; CRT)의 표면상에 파형으로 나타내어 전기적인 변화를 측정, 분석하는데 사용되는 계측기로써 “스코프(scope)”라고도 불린다. 음극선관의 표면에 입혀진 형광 물질에 전자들이 충돌하여 빛을 발하게 된다.
오실로스코프는 2현상 계측기 이어서 2개의 파형을 동시에 나타낼 수 있고, 일반계측기로 측정할 수 없는 높은 주파수, 충격성전압 및 전류 등 각종 파형을 관측할 수 있을 뿐만 아니라 펄스 폭, 상승시간 및 지연시간 등을 측정할 수 있고 전자소자의 특성을 스크린상에 나타낼 수 있기 때문에 그 응용범위가 대단히 넓다고 할 수 있다.
대부분의 특수한 오실로스코프는 보통 CRT에다 특수한 조절장치와 입력회로로 구성된다. 예를 들어, 아날로그 스토리지 오실로스코프(Analog storage oscilloscope)는 특수한 CRT를 사용한다. 신호는 CRT내의 전극에 기억되므로 이 계기는 비주기성 파형 측정에서 사용된다. 보통 오실로스코프로 측정하기 어려운 높은 주파수 신호를 측정하기 위해 시는 점파형(Dot waveform)으로 나타낼 수 있는 샘플링 오실로스코프(sampling oscilloscope)를 사용한다.

참고 자료

없음