X선 분광법의 모든것 흡수법, 발광법, 회절 등등 PPT

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목차

1. X-선 흡수법
2. X -선 형광법
3. X -선 회절법

본문내용

특징
회절과 달리 무질서한 시편에도 분석 가능
원자의 지역적 구조 분석 가능
여러종류의 원자에 대한 구조분석은 입사 에너지를 조절함으로써 원자의 주위 환경을 분석 가능
근접원자, 결합거리, 열진동 등을 분석 가능
다양한 그래프, 광원의 한계 때문에 비보편화

- Energy의 함수로 특성 X-선을 검출
- X-선의 검출에 주로 Si(Li) 또는 Ge 반도체소자를
사용
- 특성 X-선의 검출에 가장 널리 이용
EDS (Energy Dispersive Spectroscopy)

EDS의 X-선 검출
- X-선 검출기 : Si(Li) or Ge(Li) 고체반도체 소자
- X-선 검출범위 : Si(Li) 20keV, Ge(Li) 25keV

<중 략>

3. The experimental results
1) 실험장비 및 실험장치 선택
실험목적에 맞는 장치 선택
튜브 최대출력, 모노크로미터, 필터 부착여부 고려
X-선 파장 선택
적당한 슬릿 선택
2) 시료준비 및 유의 사항
분말시료
결정성이 좋은 미세한 입자가 모든 방향으로 균일하게 분포하고 있는 시료가 적당하며, 시료의 입경은 10 - 30 mm 정도가 되도록 한다.
판상시편
이상적인 시편은 깨끗하고 매끄러운 평판상이어야 한다. 시료 표면에 큰 요철이 없도록 polishing 한다.
박막시편
박막시편은 5×5 mm이상의 크기이면 측정이 가능하다.

참고 자료

없음