x-ray 기기 분석

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1) X선(X-Rays)의 발견.
X선이 처음 발견된 것은 지금으로부터 약 100년전인 1895년 독일의 물리학자 Roentgen(뢴트겐)에 의해서 였고, 그 당시에는 물체의 내부를 밝히는데 있어 단순한 X선(X-Rays)의 투과력에 의한 Radiography 용도로 사용되었다.
1912년 독일의 Laue 에의해 결정은 그의 면 간격(원자와 원자 사이의 간격) 정도의 파장을 가진 X선(X-Rays)을 쪼이면 반사한다는 X선(X-Rays) 회절(Diffraction)실험이 성공하여, X선(X-Rays)의 파동성과 결정내 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 되기도 하였다.
같은해 영국의 Bragg는 이를 다른 각도로 해석하여 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Bragg`s law (2 d Sin q = n l) 로 나타내었으며 이 X선회절(X-Ray Diffraction)현상을 이용하여 각종물질의 결정구조를 밝히는데 성공하였다

<중 략>

1차X선(Primary X-Rays)과 동일한 파장의 산란X선 Thomson 산란(Thomson scattering)은 회절(Diffraction)현상을 나타내며, 결정해석에 이용된다.
1차X선보다 파장이 약간 긴 X선(Primary X-Rays)을 Compton 산란(Compton scattering)이라 하며, 이때 파장의 변화 Dl는 다음과 같다.
이것은 비간섭성 산란으로, 회절(Diffraction)현상을 나타내며 또 여러방향으로 방사되어 회절X선(Diffracted X-Rays)의 Background 가 된다.
형광X선(Fluorescence X-rays)은 원소분석에 이용한다.

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