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소개
ISOLATION Test에대한 상세 설명자료이며, Mosfet 제품에서 절연을 목적으로 제작된 제품을 절연파괴를 유도하여 일정전류 미만으로 측정되는 불량을 선별하기 위한 Test임.목차
없음본문내용
Jan 10, 2012Isolation Test Seminar
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1. ISOLATION TEST
☞ 검사 정의: 절연을 목적으로 제작된 제품에 고압을 가해 절연파괴를 유도하여 기준치 미만의 불량을
선별하기 위한 검사.
☞ 불량의 종류
1. PKG내부의 금속이 외부와 Open된 경우
2. 표면오염에 따른 PKG고유의 절연 성분을 약화 시키는 경우
Tester Handler
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2. ISO Test 목적 및 사용조건
☞ Test 목적: 제품 외관검사로 소지금속 노출이나 PKG Void불량 등 전류가 흐를 수 있는 오염 등의 외관성
불량을 Detection하기 위함.
☞ 사용 조건: DC의 경우 0.01kv ~ 5kv, 0.1 ~ 11mA를 0.3 ~ 999s동안 인가시켜 전류를 Measure 했을 때
0.1 ~ 11mA가 되면 불량임.
☞ 검사 방식: Lead Frame에 고전압을 하하여 PKG 외관 밖으로 전류가 흐르지 않으면 Good이지만 흐르면 불량으로
간주함.
☞ Application 제품: Heat-Sink 돌출이 없는 모든 제품(Full Pack)
▦ SPEC Condition: 4.5kv, 0.5mA를 0.3s
? 0.5mA이하 Detection참고자료
· 없음태그
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자료후기
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