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저잡음 증폭기를 위한 새로운 구조의 검사용 설계회로

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최초등록일 2025.02.14 최종저작일 2006.03
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저잡음 증폭기를 위한 새로운 구조의 검사용 설계회로
  • 서지정보

    · 발행기관 : 대한전자공학회
    · 수록지 정보 : 전자공학회논문지 - TC / 43권 / 3호 / 68 ~ 77페이지
    · 저자명 : 류지열, 노석호

    초록

    본 논문에서는 4.5-5.5GHz 저잡음 증폭기 (low noise amplifiers, LNAs)를 위한 새로운 구조의 검사용 설계(Design-for-Testability, DfT) 회로 를 제안한다. 이러한 검사용 설계회로는 고가의 장비를 사용하지 않고도 저잡음 증폭기의 전압 이득, 잡음 지수, 입력 임피던스, 입력 반사 손실 및 출력 신호대 잡음 전력비를 측정한다. 검사용 설계회로는 0.18㎛ SiGe 공정을 이용하여 설계되었으며, 입력 임피던스 정합과 직류 출력 전압 측정을 이용한다. 이러한 회로를 이용한 회로 검사 기술은 검사 방법이 간단하고 검사하는데 드는 비용이 저렴하다.

    참고자료

    · 없음
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