숭실대 신소재공학실험1) 14주차 고분자 디바이스 예비보고서

목차

1. 실험 제목
2. 배경 및 이론
3. 참고 문헌

본문내용

1. 실험 제목
고분자 디바이스

2. 배경 및 이론
1) 4-point probe의 측정 원리
- 강전흥, 유광민, 박영태, 이상화, 유권상, 한국표준과학연구원. 금속 비저항의 정밀측정 방법. 2011.7. 2124-2125p
측정 원리 및 측정 과정 설명
FPP(Four-poin probe) 방법은 동일선상에 놓은 4개의 핀을 시료의 표면에 접촉시켜 저항을 측정하고, 기하학적 보정계수를 적용하여 면저항을 측정하는 방식이다.
Single configuration의 측정 원리는 아래의 그림에서 핀 A, D에 전류()를 흘리고 핀 B, C에서 전압()를 측정하여 저항 를 구하고, 면저항()을 구하는 방법이다. 여기서 는 핀 간격에 대한 시료 크기 보정 인자, 핀 간격에 대한 시료의 두께 보정 인자, 온도 인자에 의한 영향을 받는다.

참고 자료

강전흥, 유광민, 박영태, 이상화, 유권상, 한국표준과학연구원. 금속 비저항의 정밀측정 방법. 2011.7. 2124-2125p
천세린. 대기압 유기화염 플라즈마를 이용한 고분자 표면 개질 연구. 2022.2. 8-9p
배윤진. 스핀 코팅 방식을 이용한 박막 고체 광 조직 팬텀 제작 및 피부 층 구조의 모사 가능성에 대한 연구. 2013.1. 6p